(Rinnovabili.it) – Grazie ad una collaborazione che dura orami da oltre due anni le giapponesi Dainippon Screen Manufacturing (DSM) e Gifu University, hanno dato vita ad una nuova tecnologia atta ad analizzare le caratteristiche delle pellicole di silicio amorfo (a-Si) nei moduli fotovoltaici in film sottile. L’obiettivo della ricerca nipponica parte da un problema con cui il solare si trova ancora a dover fare i conti, ossia la degradazione foto-indotta nelle celle in a-Si così come in quelle multi giunzione che nel tempo ne diminuisce l’efficienza. Uno dei colpevoli risulta essere l’eccesso di idrogeno introdotto durante il processo di deposizione del film sul substrato vetroso. Attualmente nessuna tecnologia è in grado di valutare con precisione (e quindi di controllare) il contenuto del gas durante la produzione per ottenere pertanto la stabilità delle celle.
A questo fine, DSM e Gifu dal 2008 stanno cooperando per sviluppare un metodo di analisi che digitalizzi le informazioni “utili per il controllo accurato del degrado indotti dalla luce”. Ovviamente è ancora presto per parlare di commercializzazione. I ricercatori giapponesi assicurano ci voglia un ulteriore lavoro per portare sul mercato la loro metodologia di analisi, nella tecnologia produttiva del film sottile.